列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10

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PosiTest DFT 测厚仪

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该系列仪器的主要特点是增强了传感技术，使得仪器获得了前所未有的性能，巩固了TA仪器在全球热分析技术的领导地位。

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仪器测量范围广、精度高，高、中、低档齐全，并能接受用户特殊定货。

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PMT-2液体颗粒计数仪采用英国普洛帝核心技术创新型的第八代双激光窄光颗粒检测传感器，双精准流量控制-精密计量柱塞泵和超精密流量电磁控制系统，可以对清洗剂、半导体、超纯水、电子产品、手机玻璃、平板玻璃、硅晶片等产品的在线或离线颗粒监测和分析，目前是英国普洛

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适用于一切透明、半透明时平行平面样品（塑料板材、片材等）透光率、雾度的测试、液体样品（水、饮料等）的浊度或澄明度测定。

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水分快速测定仪

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奥豪斯MB35卤素水分测定仪采用环形卤素辐射体加热，比传统的红外加热速度快40%，加热器开启范围大、散热快，便于连续测量。结构紧凑，节省工作场地。密封性好，更适应工业现场。集高品质、耐用性和紧凑结构设计为一体的MB35专业型水份测定仪，采用了新的加热与称量技

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该仪器是由澳大利亚IDM公司设计生产，主要用来测试纸板折痕力、挺度的专用仪器

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