多模态超分辨显微成像系统
产品名称： 多模态超分辨显微成像系统
英文名称： Multimodal superresolution microscopic imaging system
产品编号： MS4000
产品价格： null
产品产地： 中国
品牌商标： 柏纳
更新时间： 2024-09-11T11:12:28
使用范围： null
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多模态超分辨显微成像系统提供出色的STED超高分辨率和共聚焦成像品质，还可实现FED、NFOMM等点扫描成像方法；在探测路采用多通道并行探测，可进行airysplit成像、VIKMOM成像。可实现横向分辨率1/2到1/30波长的多色超分辨三维成像。
主要特点：
l 集成五种成像模式：共聚焦、FED、NFOMM、FLIM 、STED
l 成像分辨率极限：X,Y横向分辨率（XY）：~20nm，Z轴轴向分辨率（Z）：~50nm
l 超分辨成像软件：包括控制、检测、分析功能，支持多种成像模式
| 仪器性能描述 | 指标 | |
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光源 |
超连续白光光源（多至8通道可配置） 声光调制器（AOTF）协调控制，实现各通道激光的高速独立调节 激光强度调节范围为0.01%-100%，最小调节步进精度为0.01% |
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STED抑制光 |
775nm脉冲激光器，相较于连续光抑制，可减少对样品的光漂白效应 通过AOM进行光强调节 |
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共聚焦模式
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空间分辨率 |
XY：~200nm，Z：450nm |
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成像速度 |
4fps@ 512×512 pixels（双向） |
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图像尺寸 |
8192 x 8192 pixels |
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并行探测模式 |
并行探测模式下分辨可达120nm。 |
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STED模式
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空间分辨率 |
横向：1/8λ-1/30λ |
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成像速度 |
1fps @ 512×512 pixels |
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图像尺寸 |
8192×8192 pixels，94μm×94μm @ 100X 物镜 |
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并行探测 |
结合并行，提升探测效率，降低光毒性 |
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FED模式 |
空间分辨率 |
横向：1/3λ-1/4λ |
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图像尺寸 |
8192 x 8192 pixels |
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FLIM模式
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探测器 |
7个APD，1个时间相关单光子计数系统（TCSPC） |
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成像模式 |
实时显示平均寿命图像 |
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时间分辨 |
<=64ps |
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