梅特勒分析天平XP2U
产品名称： 梅特勒分析天平XP2U
英文名称： METTLER TOLEDO XP2U
产品编号： 梅特勒分析天平XP2U
产品价格： 0
产品产地： 瑞士
品牌商标： METTLER TOLEDO 梅特勒
更新时间： null
使用范围： null
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梅特勒-托利多XP2U是一台创新的超微量天平：提供卓越的称量性能，用户友好界面和质量标准。XP2U超微量天平具有21,000,000的至高分辩率。SmartScreen彩色触摸屏、可设置的显示界面、智能用户向导、以及无需用手接触的SmartSens红外感应器控制的防风罩，使这种高精度天平比以往更快、更容易、和更高效。
梅特勒-托利多XP6微量天平和XP2U／XP6U超微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计，同时确保网络兼容性。
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标准配置 |
内置QA特点 | ||||||||||||||||||
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| 极限值 | XP2U |
| 最大称量值 | 2.1 g |
| 可读性 | 0.0001 mg |
| 重复性(sd) - 加载处 | 0.00025 mg |
| - 低加载（加载处） | 0.0002 mg (0.2 g) |
| 线性误差 | 0.001 mg |
| 四角误差（加载处）1) | 0.0025 mg (1 g) |
| 灵敏度漂移 | 1.5 x 10-5 |
| 灵敏度温度漂移 2) | 0.0001 /°C |
| 灵敏度稳定性 3) | 0.0001 /a |
| 典型值 4) | |
| 典型重复性（sd） | 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr |
| 典型微分非线性（sd） | √8x(10-14) · g · R_nt |
| 典型微分四角误差（sd） | 8 x (10–7) . R_nt |
| 典型灵敏度偏移（sd）2) | 3x(10-6)· R_nt |
| 典型最小称量值*（符合USP） | 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr |
| 典型最小称量值* (@ U=1 , 2 sd) | 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr |
| 典型稳定时间 | < 10 s |
1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 第一次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。