高纯锗探测器GEM50P4
品牌：美国Ortec
晶体类型：           P型高纯锗，同轴型
相对探测效率：           大于50%
能量响应范围：    40 Kev – 10 Mev
能量分辨率：  对1.332 MeV峰（Co-60）：≤1.9keV
对 122 keV峰（Co-57）：≤ 0.9 keV
峰康比：                     ≥ 64：1
峰形参数：    FW0.1M/FWHM ≤1.9，FW0.2M/FWHM ≤ 2.6
数字化谱仪DSPEC-jr2.0-POSGE
-最大数据通过率：大于100kcps（低频抑制器LFR关闭）；大于34kcps（低频抑制器LFR开启）；
-具有低频噪声抑制、自动最优化、自动极零、零死时间校正和虚拟示波器等功能；
-液晶屏显示，能随时显示探测器晶体温度、高压状况、增益/零点稳定性、实时间/活时间和计数率等信息；USB2.0接口；
-系统变换增益（存储器分段）：由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道；
-积分非线性  ≤±0.025%；微分非线形    ≤±1%；
-数字化稳谱器：由计算机控制并稳定增益和零点；
-温度系数：  增益:<35ppm/°C ；零点:<3 ppm/℃；
-脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。