超声波扫描显微镜
产品名称： 超声波扫描显微镜
英文名称：
产品编号： Sonoscan D9500
产品价格： 0
产品产地： 美国
品牌商标： Sonoscan
更新时间： null
使用范围： null
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一、原理及应用领域原理：
在一个较小尺寸的范围内，超声波会由于材料的物理特性发生相互作用。一旦材料的特性发生变化，样品内部的超声波就会被吸收、散射和反射。因为超声波无法很好通过空气进行传播，所以样品内的微小缝隙会被很容易的检测到。在检测诸如分层、裂缝和不透光材料中的空隙这些缺陷时，超声波的这种特性能够极端敏感的在图像上显示出来。应用领域：
| 微电子学领域 • 塑料封装IC • 陶瓷电容器 • 模片固定、载芯片板（COB） • 芯片型封装（CSP） • 倒装晶片 • 堆叠型封装 • 卷带式自动接合（TAB） • 混和技术、MCM、SIP • 柔性电路 • 印刷电路板（PCB） • 智能卡 • 粘结晶片 • IMEMS |
微电子机械系统 (MEMS) • 粘结晶片 • 制造工艺评估 • 包装 军事/航空/汽车 • 高可靠性资格筛选 • 产品升级筛选 • 资格筛选 |
材料 • 陶瓷、玻璃 • 金属、粉末金属 • 塑料 • 合成物 其他 • 芯片实验室、生物芯片和 微阵列芯片 • 滤筒 • 包装、密封 • 微射流技术 • 聚乙烯/箔袋 • 焊件 • 传感器 |
| 1、扫描检测模式： • Time Domain Pulse -Echo：A模式(单点扫描)、B模式(块扫描)、C模式(层扫描)、Multi- Scan(多层扫描)、和LOBE(返回损耗模式) • T-Scan (穿透式扫描，可以使用最大100MHz的固定区域和大面积扫描穿透式模式) • STAR (通过另外的数据通道，可以同步C模式和T模式) • Q-BAM (切片分析，定量B模式扫描分析用于虚拟切面分析) • Zip Slice和3D (自动多聚焦形貌图像获取，得到高达200张的C模式图像，并可进行数字重构，对超声波实体进行虚拟立体观测) • Tray-Scan (可以进行自动数据收集和分析作为JEDEC标准托盘中的元件接受或拒收标准) • C-SAM内部自学软件 (提供内部交互式帮助功能和应用支持) |
| 2、软件操作系统： • Windows XP Pro和SONOSCAN Visual Acoustics软件 • 多语言操作系统，包含英语、日语和传统汉语 |
| 3、电脑主机系统： • CPU Intel Pentium IV 3.4 GHz • 2 GB内存、频率480MHz • 256M独立显卡 • 250 GB硬盘 • DVD读写光盘带刻录 • 10/100 网卡和56K解调器 • 19" 平板显示器 (2个) 备注：以上为最低配置，基本工业电脑系统配置不断更新 |
| 4、机械系统： • 超高速实际达700mm / 秒，333 x 312mm大面积扫描 • 可重复性精度±0.5um的X / Y轴系统和±45nm的Z轴系统 • 带有精确扫描和快速扫描的数字伺服控制器，有着最快速的图像获取能力 • 惯性平衡，防震扫描结构工程 (美国专利号4781067) • 高达67万(8K)分辨率的增强扫描和数据获取格式，分辨率高达2048 x 2048 (标配)，8192 x 8192 (选项) |
| 5、电子系统： • 有500 MHz带宽的脉冲发生和接受器的探头的频率高达400MHz • 探头的频率选择范围从5MHz到400 MHz • 数字选取位置选择，1.0纳秒 • 数字选取宽度，0.25纳秒的步宽进行选择 • 超声波阻抗极性检测仪 (AIPD)--美国专利4866986-同步显示极性(相位)和幅度的数据 • 95dB增益，可以以0.5dB每步进行选择 • 双通道数字A模式扫描波形卡用于显示，捕捉和数据归档 |
| 6、标准的功能特征： • 利用特殊的光源，可扩展的样品易接近和易找到 • 利用设置向导帮助使用者作系统设置 (例如：探头的选择) • 网络功能 • SONOLINK--直接在线支持通过调制解调器的通信进行调试和应用支持 • ACTOSCAN--自动扫描功能，可自动选择样品定位、观察视野、聚焦、电子门和增益 • 用于图像增强的彩色管理系统筹(包括预存储和常规的“用户设计”的色图) • 对应C模式图像上的位置的多个A模式扫描显示 • 在图像上或A扫描上定量测量距离和时间 • 每一张存储的图像的超声波设定和参数库的自动存储和回复 • 无纸的GIF、JPG、TIF、BMP和PCX文件输出，用于直接数字数据传送器和文件存储 |
| 7、可选择的功能特征： • 可选用瀑布探头进行非浸入式扫描 • 加热和/或冷却系统确保水温稳定和一致性 • 可变数字影像分析(DIA)包括面积片断分析(Mil-Std-883，方法2030)，图像增强、柱状图显示、线扫描、FFT、独立像素幅度分析、影像叠加和相减等 • VRM模块存储100%的A模式数据，即样品已经不在，依然能作进一步的分析，另外的轮廓图像和频域可相对于3D深度和图像的相关频率 • 另外的RF切片/存储，可获得多层面的数据 |
| 8、设备工作要求： • 115V~240V单相，50/60 Hz • 最大电流15安培，功率3KW • 设备外观尺寸：长1.8m x深0.76m x高1.5m或弯角设计 • 设备重量：570Kg |
三、SONOSCAN厂商简介美国SONOSCAN作为业界最先进的AMI（Acoustic Micro Imaging超声细微成像）技术的美国公司，是超声扫描设备C-SAM（Scanning Acoustic Microscope）扫描图像最清晰、扫描速度最快、分辨率最高范围和长寿命探头的研发、设计和制造系统供应商。SONOSCAN成立于1973年已有34年的工作经验；现有超过1000台SONOSCAN的C-SAM扫描设备在全球范围内被投入使用，中国超过90台设备。SONOSCAN在1975发明和推出了世界第一台商业用超声波扫描显微镜。34年的研发和制造经验让SONOSCAN在技术性能，产品质量等方面成为行业的佼佼者。目前，我们的研发部门拥有美国一流大学博士学位的研究人员，专业知识和实际经验丰富的设计师和工程师。SONOSCAN拥有目前世界上最多专利（17项）技术，美国许多关于C-SAM的军标大都由SONOSCAN完成，也是美国IPC和JEDEC关于声扫方面的标准缔造者，平衡抗震的扫描塔、提供目前多种聚焦长度的探测头和永久性的探头、原厂设计的更全面、更多功能的操作软件，整个系统完全是美国原厂制造，多年来SONOSCAN的产品广泛用于半导体封装产品线、材料科学、失效分析实验室和PCBA元器件检测、非破损性检测（NDT）等领域的检测领域。SONOSCAN以领先检测技术、丰富经验、客户为先的应用为用户提供及时技术支持。是唯一拥有和提供实验室服务的厂家，为现有用户或潜在客户提供实验室检测服务，如失效分析和元器件故障检测。