一、 用途：
　LA-90是一套用于洗根后的多参数根系图像扫描分析系统，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强大，操作简单，广泛运用于根系形态和构造研究，同时可以拓展为分析植物叶面积，树木年轮，瓜果剖面分析等功能。

二、 原理：
　　LA-90根系扫描分析系统是利用高质量图形扫描系统提供高分辨率的彩色图像或黑白图像，该扫描系统匹配专门的双光源照明系统，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效的保证了图像的质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等参量，LA-90可以读取TIFF，JPEG标准格式的图像。

四、 基本技术指标：

植物根系可分析测量：
1)根总长；

2)根平均直径；

3)根总面积；

4)根总体积；

5)根尖计数；

6)分叉计数；

7)交叠计数；

8)根直径等级分布参数。

9）分辨精度：0.05mm²；

10）测量总时间：60秒。

11）自带标定功能，可实现半自动的尺寸标定及全自动的亮度标定；数据处理：
12）数据存储：图像和测量结果以数据库存储(通过PC)；数据导出：测定结果以Excel表和Word文件

导出；

13）打印报告及编辑：可提供报告编写、修改输入、打印预览；打印图片。

14)品牌：SINTEK

仪器专门的L-90双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可读取TIFF、BMP、JPEG标准格式的图像。

五、将来拓展功能：

（一）叶面积分析测量参数：

叶片面积（或累计面积)
叶子穿孔面积 (或累计面积)
叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 (不受叶片孔洞影响)、叶片周长
叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量
叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；
包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积
不规则叶片形态分析，真彩病理分析

（二）树木年轮分析参数：

可自动判读树木年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮。可分析年轮线间对比较强的针叶树种和年轮线间对比弱的落叶树种；交叉定年，生成年表，数据分析处理，含回归分析、相关性分析。

（三）瓜果剖面各部分分析：

1）可分析检测苹果、梨等的纵径、横径、果型指数、截面积、芯面积、外周长、肉色；2).可测柑橘类水果的纵径、横径、果型指数、截面积、皮厚、芯面积、外周长、肉色。3).可分析检测测西瓜的纵径、横径、果型指数、截面积、皮厚、外周长、瓤色；4).可分析检测哈密瓜等甜瓜的纵径、横径、果型指数、截面积、肉厚、芯面积、外周长、肉色、瓤色

六、 产地：
　　  上海SINTEK