精工(Seiko)扫描探针显微镜-显微系统-仪器设备-生物在线
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精工(Seiko)扫描探针显微镜

精工(Seiko)扫描探针显微镜

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产品名称: 精工(Seiko)扫描探针显微镜

英文名称: Seiko AFM

产品编号: Nanocute/E-sweep

产品价格: 0

产品产地: 日本

品牌商标: Seiko

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最新型的Nanonavi II控制系统
Q值控制功能:DFM模式下探针振动的品质因子Q值可以控制。可极大提高相位、磁畴等的分辨能力。
 SIS Mode (Sampling Intelligent Scan) 智能扫描系统:。
 可实现四通道8192×8192 数据采集,图像更精细。

主机有:

Nanocute: 为多功能型,可在大气及液体环境中实现各种SPM测量功能,操作简单,分辨能力高,皮实耐用。同时可实现AFM,DFM,STM,MFM,EFM,KFM,C-AFM,液相测量,封闭液体槽等 

E-SWEEP型为可控环境型,除可实现Nanocute所有功能外,还可实现高低温控制,高真空及大气环境,气氛控制,可连续变温实时观察。可实现样品微观物理性能变温动态观察和数据分析。

L-trace II为大样品台型,能对6英寸或8英寸的样品直接自动测量。


E-SWEEP型为可控环境型,主要特点是: 
扫描在封闭的Chamber中进行,可对测量的环境(高真空、高温、低温、液体、电化学等)进行控制。
专业级的真空Chamber,所有的部件都是针对高真空和高低温环境所设计;
 最高分辨的可控环境SPM,是一款可实现原子级分辨的可控环境SPM;
 适合各种金属、陶瓷及高分子材料在不同温度下的性能表征,温度范围宽且控制稳;
 采用性能优异的磁悬浮分子泵,避免了真空系统对测量的影响,即使启动真空系统,设备也能进行高分辨稳定的测量;
 高真空环境,保护高低温条件下的测量、消除空气对测量的影响、研究物质在高真空环境中的特殊性质;
 双测温头设计,不仅测量样品台温度,而且能测量样品表面温度,彻底解决温度梯度导致的误差;
 独特设计的控温台和扫描器,保证各种温度条件下稳定而高分辨的测量;

L-trace II为大样品台型,能对6英寸或8英寸的样品直接测量,高度自动化,标配闭环扫描器